產品展示
-
基本整機技術性能：
測量元素範圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量
測量含量範圍，從ppm至100%
測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時定性定量
蜂位漂移：八小時小於1%
-
進口探測器的性能指標：
探測器類型：電製冷Si-PIN
探測面積：2.4x2.8mm（7mm2）
硅活化區厚度：300um
探測器分辨率：對於55Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149Ev
探測器窗口：鈹窗，25um厚
-
進口高壓電源規格：
電壓和電流從零至滿量程連續可調，最大50KV，1mA
電壓調整率：負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率：對於規定的輸入電壓範圍，該數值為滿量程的0.01%
電流調整率：負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
線性調整率：對於規定的輸入電流範圍，該數值為滿量程的0.01%
穩定性：經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05%
溫度係數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%
X-5000ROHS分析測試儀
X-5000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源，電製冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。
| 激發源： | 本機採用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA |
| 高壓電源： | 最大50W，50KV，1mA |
| 探測器： | 電製冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優於149eV） |
| 多道分析器： | 2048道 |
| 軟體： | 基於WINDOWS的強大工作軟體。定量分析包括：經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。定性分析包括：KL線標記，譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法。 |
| 電源： | 交流220V 50Hz |
| 體積： | 520mm x 600mm x 270mm |
| 重量： | 約 42kg (主機) |
| 定量測量範圍： | Pb，Hg，Cr，Cd，Br |
| 測量精度： | 低於100ppm時精確度15ppm，大於100ppm時，精確度15% |
| 分析元素： | Pb，Hg，Cr，Cd，Br |
| 檢出限： | Pb：3.2 mg/kg (ppm) Hg：3.2 mg/kg (ppm) Cr：4.1 mg/kg (ppm) Cd：5.8 mg/kg (ppm) Br：3.1 mg/kg (ppm) |
| 測量時間： | 30秒—120秒可選 |
| X射線源： | X光管 |
| 工作環境溫度： | 10℃——45℃ |
| 工作環境濕度： | 20%——80% |
| 高壓器： | 50Kv |
| 操作系統： | windows |
