產品展示
- 國家首飾質量監督檢驗中心今年已經採購了X-3000型的升級版X-3600型測金儀系統。
- X-3000型測金儀系統具有銀銅雙峰位校準系統、三重防輻射系統、峰位自調系統，該系統正在申請之主知識產權。
- 全部軟件系統採用基本參數法，，理論Alpha係數法、經驗係數法，多元回歸法等具有自主知識產權獨創的綜合計算方法。
- 獨創的密度法測試包金系統，成為X-3000型測金儀系統的重要組成部分，屬國內首創。
- 高集成，數字化軟硬件系統更加豐富了X-3000型測金儀系統的整體設計，使得系統更加穩定、可靠、精準。
- 開放的可供客戶自行開發和升級的工作軟件，真正實現零費用升級，便於移動測量。
- 高分辨率進口探測器可定性、半定量測試珠寶首飾行業金依合金、鉑銥合金造假問題，解決行業疑難問題。
- 可同時兼測RoHS項目及貴金屬首飾內有毒有害物質。
X-3000貴金屬成份分析測試儀
X-3000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源，電製冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。
| 激發源： | 本機採用低功率 X 射線管（W靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA |
| 高壓電源： | 最大50W，50KV，1mA |
| 探測器： | 電製冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優於149eV） |
| 多道分析器： | 2048道 |
| 軟體： | 應用軟 體定量分析包括：經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。定性分析包括：KL線標記，譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法。 |
| 電源： | 交流220V 50Hz |
| 體積： | 520mm x 600mm x 270mm |
| 重量： | 約 42kg (主機) |
1．測量元素範圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量
2．可測量含量範圍，從ppm至100%
3．測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘
4．多元素同時定性定量
5．蜂位漂移：八小時小於1%
進口探測器的性能指標
1．探測器類型：電製冷Si-PIN
2．探測面積：2.4x2.8mm（7mm2）
3．硅活化區厚度：300um
4．探測器分辨率： 對於55Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149Ev
5．探測器窗口：鈹窗，25um厚
進口高壓電源規格
1．電壓和電流從零至滿量程連續可調，最大50KV，1mA
2．電壓調整率：
負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率：對於規定的輸入電壓範圍，該數值為滿量程的0.01%
3．電流調整率：
負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
線性調整率：對於規定的輸入電流範圍，該數值為滿量程的0.01%
4．穩定性：經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05%
5．溫度係數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%
切割特點：
X-3000貴金屬成份分析測試儀 ,在國內同行業的唯一性
X-3000測金儀系統特點優勢：
