產品展示
- 基本參數法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。
- 包裹樣品檢測辨別系統。
- 樣品室高清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。
- 電製冷與內部雙向循環冷卻恆溫系統相結合，維持內部工作環境穩定。
- 內部動力學風道設計，快速排出多餘熱量。
- 雙峰位快速自動校準。
- 雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。
- 儀器工作方法任意開發。
- 定量分析：包括經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。
- 定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。
- 測試報表根據客戶要求獨立設計。
X-3600貴金屬成份分析測試儀
X-3600是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源，電製冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強，分辨率高，適用於各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析範圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。
| 外型尺寸： | 600mm×530mm×330mm |
| 可測試樣品大小： | 關倉測量：220mm×200mm×150mm 開倉測量：無限大 |
| 儀器重量： | 50公斤 |
| 工作環境溫度： | 0—35℃ |
| 工作環境相對濕度： | 80% |
| 元素分析範圍： | 鋁（Al）—鈾（U） |
| 含量分析範圍： | 1PPM—99.999% |
| 測量時間： | 10—180秒可調 |
| 激發源： | 低功率X射線管 |
| 高壓電源： | 美國Spellman原裝進口高壓電源 |
| 探測探測器： | 美國Amptek原裝進口電製冷Si-Pin半導體探測器 |
| 儀器分辨率： | 55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優於149eV |
| 多道分析器： | 2048道 |
| 軟體： | 基於WINDOWS的強大工作軟體， 客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法 |
| 工作電源： | 交流 220V 50Hz |
X-3600測金儀系統特點優勢：
