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產品展示

    X-3600貴金屬成份分析測試儀

    X-3600是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源,電製冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各部件的優異性能,保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
    儀器檢測能力強,分辨率高,適用於各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析範圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

    外型尺寸: 600mm×530mm×330mm
    可測試樣品大小: 關倉測量:220mm×200mm×150mm
    開倉測量:無限大
    儀器重量: 50公斤
    工作環境溫度: 0—35℃
    工作環境相對濕度: 80%
    元素分析範圍: 鋁(Al)—鈾(U)
    含量分析範圍: 1PPM—99.999%
    測量時間: 10—180秒可調
    激發源: 低功率X射線管
    高壓電源: 美國Spellman原裝進口高壓電源
    探測探測器: 美國Amptek原裝進口電製冷Si-Pin半導體探測器
    儀器分辨率: 55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優於149eV
    多道分析器: 2048道
    軟體: 基於WINDOWS的強大工作軟體, 客戶可進行二次開發,自行開發任意多個分析方法
    工作電源: 交流 220V 50Hz
    X-3600測金儀系統特點優勢:
    1. 基本參數法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
    2. 包裹樣品檢測辨別系統。
    3. 樣品室高清成像定位系統,方便微小樣品定位測量。
    4. 電製冷與內部雙向循環冷卻恆溫系統相結合,維持內部工作環境穩定。
    5. 內部動力學風道設計,快速排出多餘熱量。
    6. 雙峰位快速自動校準。
    7. 雙箱體結構,抗干擾能力強且方便硬件升級。
    8. 儀器工作方法任意開發。
    9. 定量分析:包括經驗係數法,理論a係數法和基本參數法。
    10. 定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖比較法,光標自動尋峰等。
    11. 測試報表根據客戶要求獨立設計。