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X-5000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源,電製冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各部件的優異性能,保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。
激發源: | 本機採用低功率 X 射線管(Mo靶),最高電壓可達50KV,最大電流1mA |
高壓電源: | 最大50W,50KV,1mA |
探測器: | 電製冷 Si PIN半導體探測器(55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優於149eV) |
多道分析器: | 2048道 |
軟體: | 基於WINDOWS的強大工作軟體。定量分析包括:經驗係數法,理論a係數法和基本參數法。定性分析包括:KL線標記,譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發,自行開發任意多個分析方法。 |
電源: | 交流220V 50Hz |
體積: | 520mm x 600mm x 270mm |
重量: | 約 42kg (主機) |
定量測量範圍: | Pb,Hg,Cr,Cd,Br |
測量精度: | 低於100ppm時精確度15ppm,大於100ppm時,精確度15% |
分析元素: | Pb,Hg,Cr,Cd,Br |
檢出限: | Pb:3.2 mg/kg (ppm) Hg:3.2 mg/kg (ppm) Cr:4.1 mg/kg (ppm) Cd:5.8 mg/kg (ppm) Br:3.1 mg/kg (ppm) |
測量時間: | 30秒—120秒可選 |
X射線源: | X光管 |
工作環境溫度: | 10℃——45℃ |
工作環境濕度: | 20%——80% |
高壓器: | 50Kv |
操作系統: | windows |
基本整機技術性能:
測量元素範圍寬:從鋁(13)至鈾(92)都可測量
測量含量範圍,從ppm至100%
測量速度快,通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時定性定量
蜂位漂移:八小時小於1%
進口探測器的性能指標:
探測器類型:電製冷Si-PIN
探測面積:2.4x2.8mm(7mm2)
硅活化區厚度:300um
探測器分辨率:對於55Fe,@5.9keV 對於12us的形成時間,半高寬為149Ev
探測器窗口:鈹窗,25um厚
進口高壓電源規格:
電壓和電流從零至滿量程連續可調,最大50KV,1mA
電壓調整率:負載調整率:從空載到滿載,電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率:對於規定的輸入電壓範圍,該數值為滿量程的0.01%
電流調整率:負載調整率:從空載到滿載,電流變化為滿量程0.01%
線性調整率:對於規定的輸入電流範圍,該數值為滿量程的0.01%
穩定性:經過半小時預熱後,每8小時變化不超0.05%
溫度係數:溫度變化一度,電壓變化不超過0.01%