偵測非手機瀏覽,請使用手機掃描拍攝QR碼
平版請翻轉直向畫面,謝謝您!
點此離開手機網頁回電腦版網頁
img

Connect loading screen, please wait!
華海雷射有限公司 連線載入畫面中 請稍等!
load

img產品展示 > 貴金屬成分分析儀

X-5000ROHS分析測試儀

X-5000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源,電製冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各部件的優異性能,保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。

激發源: 本機採用低功率 X 射線管(Mo靶),最高電壓可達50KV,最大電流1mA
高壓電源: 最大50W,50KV,1mA
探測器: 電製冷 Si PIN半導體探測器(55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優於149eV)
多道分析器: 2048道
軟體: 基於WINDOWS的強大工作軟體。定量分析包括:經驗係數法,理論a係數法和基本參數法。定性分析包括:KL線標記,譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發,自行開發任意多個分析方法。
電源: 交流220V 50Hz
體積: 520mm x 600mm x 270mm
重量: 約 42kg (主機)
定量測量範圍: Pb,Hg,Cr,Cd,Br
測量精度: 低於100ppm時精確度15ppm,大於100ppm時,精確度15%
分析元素: Pb,Hg,Cr,Cd,Br
檢出限: Pb:3.2 mg/kg (ppm)
Hg:3.2 mg/kg (ppm)
Cr:4.1 mg/kg (ppm)
Cd:5.8 mg/kg (ppm)
Br:3.1 mg/kg (ppm)
測量時間: 30秒—120秒可選
X射線源: X光管
工作環境溫度: 10℃——45℃
工作環境濕度: 20%——80%
高壓器: 50Kv
操作系統: windows
X-5000ROHS分析測試儀特點優勢:
  1. 基本整機技術性能:
    測量元素範圍寬:從鋁(13)至鈾(92)都可測量
    測量含量範圍,從ppm至100%
    測量速度快,通常為幾十秒到幾分鐘
    多元素同時定性定量
    蜂位漂移:八小時小於1%
     

  2. 進口探測器的性能指標:
    探測器類型:電製冷Si-PIN
    探測面積:2.4x2.8mm(7mm2)
    硅活化區厚度:300um
    探測器分辨率:對於55Fe,@5.9keV 對於12us的形成時間,半高寬為149Ev
    探測器窗口:鈹窗,25um厚
     

  3. 進口高壓電源規格:
    電壓和電流從零至滿量程連續可調,最大50KV,1mA
    電壓調整率:負載調整率:從空載到滿載,電壓變化為滿量程的 0.01 %
    線性調整率:對於規定的輸入電壓範圍,該數值為滿量程的0.01%
    電流調整率:負載調整率:從空載到滿載,電流變化為滿量程0.01%
    線性調整率:對於規定的輸入電流範圍,該數值為滿量程的0.01%
    穩定性:經過半小時預熱後,每8小時變化不超0.05%
    溫度係數:溫度變化一度,電壓變化不超過0.01%