X-3600是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源，電製冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強，分辨率高，適用於各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析範圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

1. 基本參數法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。
2. 包裹樣品檢測辨別系統。
3. 樣品室高清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。
4. 電製冷與內部雙向循環冷卻恆溫系統相結合，維持內部工作環境穩定。
5. 內部動力學風道設計，快速排出多餘熱量。
6. 雙峰位快速自動校準。
7. 雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。
8. 儀器工作方法任意開發。
9. 定量分析：包括經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。
10. 定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。
11. 測試報表根據客戶要求獨立設計。