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img產品展示 > 貴金屬成分分析儀

X-3000貴金屬成份分析測試儀

X-3000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源,電製冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各部件的優異性能,保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。

激發源: 本機採用低功率 X 射線管(W靶),最高電壓可達50KV,最大電流1mA
高壓電源: 最大50W,50KV,1mA
探測器: 電製冷 Si PIN半導體探測器(55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優於149eV)
多道分析器: 2048道
軟體: 應用軟 體定量分析包括:經驗係數法,理論a係數法和基本參數法。定性分析包括:KL線標記,譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發,自行開發任意多個分析方法。
電源: 交流220V 50Hz
體積: 520mm x 600mm x 270mm
重量: 約 42kg (主機)
整機技術性能
1.測量元素範圍寬:從鋁(13)至鈾(92)都可測量
2.可測量含量範圍,從ppm至100%
3.測量速度快,通常為幾十秒到幾分鐘
4.多元素同時定性定量
5.蜂位漂移:八小時小於1%

進口探測器的性能指標
1.探測器類型:電製冷Si-PIN
2.探測面積:2.4x2.8mm(7mm2)
3.硅活化區厚度:300um
4.探測器分辨率: 對於55Fe,@5.9keV 對於12us的形成時間,半高寬為149Ev
5.探測器窗口:鈹窗,25um厚

進口高壓電源規格
1.電壓和電流從零至滿量程連續可調,最大50KV,1mA
2.電壓調整率:
 負載調整率:從空載到滿載,電壓變化為滿量程的 0.01 %
 線性調整率:對於規定的輸入電壓範圍,該數值為滿量程的0.01%
3.電流調整率:
 負載調整率:從空載到滿載,電流變化為滿量程0.01%
 線性調整率:對於規定的輸入電流範圍,該數值為滿量程的0.01%
4.穩定性:經過半小時預熱後,每8小時變化不超0.05%
5.溫度係數:溫度變化一度,電壓變化不超過0.01%

切割特點:

X-3000貴金屬成份分析測試儀 ,在國內同行業的唯一性
 

X-3000測金儀系統特點優勢:
  1. 國家首飾質量監督檢驗中心今年已經採購了X-3000型的升級版X-3600型測金儀系統。
  2. X-3000型測金儀系統具有銀銅雙峰位校準系統、三重防輻射系統、峰位自調系統,該系統正在申請之主知識產權。
  3. 全部軟件系統採用基本參數法,,理論Alpha係數法、經驗係數法,多元回歸法等具有自主知識產權獨創的綜合計算方法。
  4. 獨創的密度法測試包金系統,成為X-3000型測金儀系統的重要組成部分,屬國內首創。
  5. 高集成,數字化軟硬件系統更加豐富了X-3000型測金儀系統的整體設計,使得系統更加穩定、可靠、精準。
  6. 開放的可供客戶自行開發和升級的工作軟件,真正實現零費用升級,便於移動測量。
  7. 高分辨率進口探測器可定性、半定量測試珠寶首飾行業金依合金、鉑銥合金造假問題,解決行業疑難問題。
  8. 可同時兼測RoHS項目及貴金屬首飾內有毒有害物質。